Microscopia de Força Atômica (AFM)

A Microscopia de Força Atômica (AFM) é uma técnica avançada que possibilita o mapeamento da topografia de amostras com uma resolução extremamente alta, chegando até o nível atômico. Ela alcança esse feito registrando as forças de interação que ocorrem entre a superfície da amostra e uma ponta extremamente fina, montada em um cantilever. A AFM é capaz de fornecer informações detalhadas tanto na direção paralela quanto na direção perpendicular à superfície da amostra.

Além de sua notável capacidade para criar mapas topográficos de alta resolução, a AFM também permite a análise das propriedades locais do material. Isso é possível por meio da investigação das forças de interação entre a ponta e a amostra. Essas interações fornecem insights valiosos sobre características como adesão e rigidez do material, expandindo ainda mais o escopo de aplicações dessa técnica. A AFM é, portanto, uma ferramenta essencial para a pesquisa e o estudo de uma ampla gama de materiais e sistemas em escala nanométrica.